電子元器件老化測試注意事項!
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摘要 : 在電子產品在加工過程中,由于經歷了復雜的加工和元器件物料的大量使用,無論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷,例如短路/斷路。而潛在缺陷導致產品暫時可以使用。
在電子產品在加工過程中,由于經歷了復雜的加工和元器件物料的大量使用,無論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷,例如短路/斷路。而潛在缺陷導致產品暫時可以使用,但在使用中缺陷會很快暴露出來,產品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規檢驗手段發現,而是運用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好,則未被剔除的潛在缺陷將最終在產品運行期間以早期失效(或故障)的形式表現出來,從而導致產品返修率上升,維修成本增加。
一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活(暴露)。顯然,對每只元器件測試一千個小時是不現實的,所以需要對其施加熱應力和偏壓,例如進行高溫功率應力試驗,來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應力,模擬嚴酷工作環境,消除加工應力和殘余溶劑等物質,使潛伏故障提前出現,盡快使產品通過失效浴盆特性初期階段,進入高可靠的穩定期。
主要的老化測試項目:光老化測試、熱老化、濕熱老化、鹽霧老化、臭氧老化、高低溫循環
通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產過程中存在的隱患提前暴露,老化后再進行電氣參數測量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產品的早期失效消滅在正常使用之用,從面保證出廠的產品能經得起時間的考驗。
電子元器件老化測試注意事項
為了使老化取得滿意的效果,應注意下面幾點:
① 老化設備應有良好的防自激振蕩措施。
② 給器件施加電壓時,要從零開始緩慢地增加,去電壓時也要緩慢地減小,否則電源電壓的突變所產生的瞬間脈沖可能會損傷器件。老化后要在標準或規范規定的時間內及時測量,否則某些老化時超差的參數會恢復到原來的數值。
③ 為保證晶體管能在最高結溫下老化,應準確測量晶體管熱阻。
對于集成電路來說,由于其工作電壓和工作電流都受到較大的限制,自身的結溫溫升很少,如不提高環境溫度很難達到有效地老化所需的溫度。因此,常溫靜態功率老化只在部分集成電路(線性電路和數字電路)中應用。
概括來說,電子產品通過生產制造后,形成了完整的產品,已經可以發揮使用價值了,但使用以后發現會有這樣那樣的毛病,又發現這些毛病絕大部分發生開始的幾小時至幾十小時之內,后來干脆就規定了電子產品的老化和測試,仿照或者等效產品的使用狀態,這個過程由產品制造者來完成。通過再測試,把有問題的產品留在工廠,沒問題的產品給用戶,以保證買給用戶的產品是可靠的或者是問題較少的,這就是老化測試的意義。